體積電阻率測(cè)定儀注意事項(xiàng)

儀器使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀以下內(nèi)容，否則將造成儀器損壞或電擊情況。

1.檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電流電阻量程是否置于104檔。

2.接通電源調(diào)零，（注意此時(shí)主機(jī)不得與屏蔽箱線(xiàn)路連接）在“Rx”兩端開(kāi)路的情況下，調(diào)零使電流表的顯示為0000。然后關(guān)機(jī)。

3.將待測(cè)試樣平鋪在不保護(hù)電極正*，然后用保護(hù)電極壓住樣品，再插入被保護(hù)電極（不保護(hù)電極、保護(hù)電極、被保護(hù)電極應(yīng)同軸且確認(rèn)電極之間無(wú)短路）。 

4.測(cè)體積電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rv邊，測(cè)表面電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rs邊，

5.接好測(cè)試線(xiàn)，將測(cè)試線(xiàn)將主機(jī)與屏蔽箱連接好。量程置于104檔，打開(kāi)主機(jī)后面板電源開(kāi)關(guān)按鈕。從儀器后面板調(diào)電壓按鈕到所要求的測(cè)量電壓。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡膠 絕緣電阻率的測(cè)定 標(biāo)準(zhǔn)中注明要求在500V電壓進(jìn)行測(cè)定，那么電壓就要升到500V)

6.電流電阻量程按鈕從低檔位逐漸撥，每撥一次停留1-2秒觀(guān)察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的位置。測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，在1min的電化時(shí)間后測(cè)量電阻，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻。

7.測(cè)試完畢先將量程撥至（104）檔，然后將測(cè)量電壓撥至10V檔，zui后將測(cè)試按鈕撥到*位置后關(guān)閉電源。然后進(jìn)行下一次測(cè)試。

8.應(yīng)在“Rx”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零，一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。

9.禁止將“RX”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。

10.不得在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓。

11.測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸撥往高次檔。

12.接通電源后，手指不能觸及高壓線(xiàn)的金屬部分。

13.不得測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端。

14.在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽。

15.嚴(yán)禁在試測(cè)過(guò)程隨意改變電壓量程及在通電過(guò)程中打開(kāi)主機(jī)。

16.嚴(yán)禁電流電阻量程未在104檔及電壓在10V檔，更換試樣。

體積電阻率測(cè)定儀操作方式

    BEST-121體積、表面電阻率測(cè)定儀是一臺(tái)能測(cè)量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因?yàn)闄C(jī)器內(nèi)有一個(gè)超高性能的靜電計(jì)放大器，盡管儀器有多種保護(hù)措施，這個(gè)超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過(guò)大電流沖擊、過(guò)電壓或放電等*損壞或降低其測(cè)量精度與性能。

測(cè)試過(guò)程

不正確的操作方式后果

開(kāi)機(jī)前

沒(méi)有將電壓撥至10V，電阻電流量程檔撥至104

過(guò)電流沖擊造成儀器放大器過(guò)電流而損壞

測(cè)試過(guò)程

隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓

過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞

測(cè)試過(guò)程

改變屏蔽箱上體面電阻，表面電測(cè)測(cè)試開(kāi)關(guān)

過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞

測(cè)試過(guò)程

測(cè)試電壓過(guò)高，導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿

過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低

測(cè)試過(guò)程

微電流測(cè)量線(xiàn)與高壓線(xiàn)短路

過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低

測(cè)試完成

未將電壓量程撥至10V，電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。

過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低

標(biāo)簽：

電壓擊穿試驗(yàn)儀

電阻率測(cè)試儀