電壓擊穿試驗(yàn)儀測(cè)試方法

5.1電絕緣材料的介電強(qiáng)度是利益的任何應(yīng)用程序，其中一個(gè)電場(chǎng)，將出席會(huì)議的屬性。 在許多情況下，材料的介電強(qiáng)度將是決定性的因素在該裝置的設(shè)計(jì)中，它是被使用。

本文5.2試驗(yàn)作出規(guī)定都適合使用，以提供所需要的，用于確定對(duì)于給定應(yīng)用的材料的適用性的信息的一部分，以及還用于檢測(cè)從處理變量，老化的條件下，或其他制造業(yè)得到正常特性的變化或偏差或環(huán)境的情況。 這種測(cè)試方法是用于過(guò)程控制，接受或研究測(cè)試非常有用。

很少能直接使用該測(cè)試方法獲得5.3結(jié)果判斷在實(shí)際應(yīng)用中材料的介電性能。 在大多數(shù)情況下，它是必要的，這些結(jié)果通過(guò)與來(lái)自其它功能測(cè)試或試驗(yàn)上的其他材料，或兩者得到的，以估計(jì)其意義為特定的材料的結(jié)果比較來(lái)評(píng)價(jià)。

5.4三種方法用于將電壓施加在節(jié)規(guī)定12 ，方法B，步驟分步測(cè)試，上升率和方法C，慢速測(cè)試方法A，短時(shí)測(cè)試：。 A法是zui常用的測(cè)試質(zhì)量控制測(cè)試。 然而，當(dāng)被相互比較不同材料的較長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試，方法B和C，這通常會(huì)得到較低的檢測(cè)結(jié)果，將可能提供更多的有意義的結(jié)果。 如果一個(gè)測(cè)試設(shè)置與電機(jī)驅(qū)動(dòng)的電壓控制是可用的，上升率緩慢試驗(yàn)是簡(jiǎn)單和優(yōu)選的一步一步的測(cè)試。 從方法B和C得到的結(jié)果是相互媲美。

5.5文件使用這種測(cè)試方法也應(yīng)說(shuō)明：

5.5.1方法的電壓施加，

上升率5.5.2電壓，如果上升速率緩慢的方法，

5.5.3樣品的選擇，準(zhǔn)備和調(diào)理，

5.5.4測(cè)試過(guò)程中周?chē)橘|(zhì)和溫度，

5.5.5電極，

5.5.6只要可能，在電流檢測(cè)元件的破壞準(zhǔn)則，并

5.5.7從建議的程序所需的任何偏差給出。

5.6如果任何中列出的要求5.5從的文件丟失，那么對(duì)于幾個(gè)變量的建議應(yīng)遵循。

5.7除非列出的項(xiàng)目5.5，這樣的參照物，這種測(cè)試方法做測(cè)試不符合本測(cè)試方法。 如果所列項(xiàng)目5.5無(wú)密切在測(cè)試過(guò)程中的控制，它是可能的精度中所述15.2和15.3將無(wú)法獲得。

5.8變化的電流傳感元件的失效準(zhǔn)則（當(dāng)前設(shè)置和響應(yīng)時(shí)間）測(cè)試結(jié)果顯著影響。

5.9 附錄X1 。 包含的介電強(qiáng)度測(cè)試的意義更完整的討論。

1。 范圍

1.1本測(cè)試方法包括對(duì)固體絕緣材料介電強(qiáng)度在市電頻率的確定程序，規(guī)定的條件下， 2 ， 3

1.2除非另有規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)在60赫茲進(jìn)行。 然而，這種測(cè)試方法適合于使用在從25到800赫茲的任何頻率。 頻率高于800赫茲，介質(zhì)加熱是一個(gè)潛在的問(wèn)題。

1.3本試驗(yàn)方法的目的是在任何的ASTM標(biāo)準(zhǔn)或其他文件，指的是這種測(cè)試方法結(jié)合使用。 引用這個(gè)文件需要要使用的特定選項(xiàng)（見(jiàn)5.5 ）。

1.4，適合使用在各種溫度下，和在任何合適的氣體或液體周?chē)橘|(zhì)中。

1.5本試驗(yàn)方法不適合測(cè)量的材料是試驗(yàn)的條件下，流體介電強(qiáng)度。

1.6本試驗(yàn)方法不適用于在確定固有的介電強(qiáng)度，直流電壓介電強(qiáng)度，或熱衰竭電應(yīng)力下（見(jiàn)測(cè)試方法 D3151 ）。

1.7該試驗(yàn)方法是zui常用的，通過(guò)測(cè)試樣品（穿刺）的厚度來(lái)確定介電擊穿電壓。 它也適合于使用，以確定沿著固體樣品和氣態(tài)或液態(tài)周?chē)橘|(zhì)（閃絡(luò)）之間的界面處的電介質(zhì)擊穿電壓。 用加入了指示修改段12 ，該測(cè)試方法也適合用于驗(yàn)證試驗(yàn)。

1.8本測(cè)試方法類(lèi)似于IEC出版物243-1 。 在該方法中的所有程序都包括在IEC 243-1 。 這種方法和IEC 243-1之間的差異 在很大程度上是社論。

標(biāo)簽：

電壓擊穿試驗(yàn)儀

介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

擊穿電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀  

耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀

耐電壓和擊穿電壓試驗(yàn)儀